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最新消息

 

   

 

以下儀器,請至國科會貴儀預約系統預約

請方式

繳費方式

 

以下儀器,由台大材料系負責維護,請至臺大材料系預約系統預約

學術單位申請會員帳號步驟

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廠商申請帳號方式

預約注意事項

Note

外系人員繳費程序

一、X光機:用於料結構、相鑑定、薄膜低掠角、殘留應力、極圖、全反射、小角度散射等

 

儀器名稱

儀器放置位置

管理者

收費標準
18kW

 高功率X光繞射分析儀
(Rigaku TTRAXⅢ 18kW XRD)

2008啟用

工綜館118
02-33663366

轉55436

高崇源
02-33665241

自行操作評鑑辦法

 

 

 

 

 

二、掃描式電子顯微鏡:用於材料表面顯微組織觀察,搭配EDS可從事微區成分分析

 

儀器名稱
(解析度:場發射>LaB6>鎢燈絲)

儀器放置位置

管理者

收費標準
6510

鎢燈絲式掃描式電子顯微鏡
(JEOL JSM-6510 SEM)
2010啟用

工綜館122-4
02-3366
1347

李苑慈
02-33661338

自行操作評鑑辦法

NOVA

場發射槍掃描式電子顯微鏡
(FEI Nova NanoSEM 450 FEG-SEM)
2012啟用

綜館130-1
02-33663366
轉55455

陳學人
02-33661348

自行操作評鑑辦法

三、穿透式電子顯微鏡:用於材料顯微組織觀察及微區結構分析,搭配EDS可微區成分分析

 

儀器名稱
(解析度:場發射>LaB6>鎢燈絲)

儀器放置位置

管理者

收費標準
100CX

100kV 鎢燈絲式穿透式電子顯微鏡
(JEOL JEM-100CXⅡ TEM )
1991啟用

工綜館122-3
02-33661347

陳學人
02-33661348

自行操作評鑑辦法

200kV LaB6 穿透式電子顯微鏡
(FEI Tecnai G2 T20 TEM)

2007啟用

工綜館128

陳學人
02-33661348

自行操作評鑑辦法

F20

200kV 場發射槍穿透式電子顯微鏡
(FEI Tecnai G2 F20 FEG-TEM)
2009啟用

工綜館126

陳學人
02-33661348

自行操作評鑑辦法

2010

200kV 場發射槍穿透式電子顯微鏡
(JEOL JEM-2010F  FEG-TEM )
2015啟用

工綜館B24

陳學人
02-33661348

自行操作評鑑辦法

四、FIB:用於TEM試片製作...等

 

儀器名稱

儀器放置位置

管理者

收費標準
FIB

聚焦離子束與電子束顯微系統
(FEI Helios600i FIB)

2013啟用

工綜館130
02-33661350

陳曉萱
02-33661350

自行操作評鑑辦法


Hitachi-FIB 聚焦離子束與電子束顯微系統
(H
itach ETHOS NX5200 FIB)
2024啟用

工綜館130
02-33661350

陳曉萱
02-33661350

自行操作評鑑辦法


五、熱分析儀:測量材料之熱轉換溫度與熱流、熱穩定性及在不同時間溫度下的機械性質等

 

儀器名稱

儀器放置位置

管理者

收費標準
TA

TA 熱分析儀
(DSC Q200、SDT Q600、DMA Q800)
2007啟用

工綜館336

謝坤州
02-33661333

自行操作評鑑辦法

、PIPS離子打薄機:用於試片製作

 

儀器名稱

儀器放置位置

管理者

收費標準
PIPS

精密離子拋光系統
(PIPS II)
2013啟

工綜館B24

陳學人
02-33661348

自行操作評鑑辦法

、歐傑電子能譜儀:用於材料表面分析

 

儀器名稱

儀器放置位置

管理者

收費標準
Auger

場發射槍歐傑電子能譜儀
(JEOL JAMP-9500F Auger)
2015啟用

工綜館B36-1
02-33661356

高崇源
02-33665241

自行操作評鑑辦法

、材料機械性能(拉伸、彎曲、洛式硬度)與鋼鐵材料成分分析實驗..TAF認證通過

 

儀器

儀器放置位置

管理者

 

拉伸試驗機、硬度試驗機、發射光譜分析儀....等

舊數學館

吳福訓
02-33661358