場發射穿透式電子顯微鏡(FETEM)

FEI Tecnai G2 F20

主要規格

FEI Tecnai G2 F20場發射穿透式電子顯微鏡。

Objective Lens Type：X-Twin

Point Resolution(nm) ：0.25

Line Resolution(nm) ：0.144

Mimimum focus step(nm) ：1.8

Magnification：22X-930KX

Camera Length(mm) ：30～4500

Maximum Eucentric Tilt：±40^o

Maximum Diffraction Angle： ±12^o

EDS Solid Angle(srad) ：0. 3

STEM Resolution(nm) ：1.0

STEM Magnification range：100X-5MX

Tilt angle with double-tilt holder：±30^o

主要功能

1.TEM：

可進行微結構觀察、明視野、暗視野影像分析、電子繞射等分析。高解析HRTEM影像。

2.STEM：

掃描穿透明、暗視野 (HR STEM BF and DF)影像、LAADF、HAADF。

3.EDS元素分析：

不同維度之EDS定性及半定量成分分析。EDS搭配STEM的BF, LAADF, HAADF偵測器同步獲取影像和光譜訊號可進行full frame、選區和線掃描等掃描分析模式。

申請服務辦法

1. 請到臺大材料系預約系統中預約

2. 每月25日10:00開始開放下個月的預約時段，當月有空檔隨時可預約。

3. 底色為橘色時段代表有專人陪同，其他時段需自行操作。

4. 取消預約需在二天前自行上網取消，否則除非特殊狀況(如天災)費用照計。

注意事項

1. 使用者需事先 e-mail 試片詳細資訊於儀器管理者，詳述試片之製作方式。

2. 易產生相變及蒸鍍效應之低熔點的材料，如:銦、錫等恕不受理。

3. 磁性或易被電磁透鏡吸引的粉末型式樣品或材料恕不受理

4. 若未確實遵守以上限制，或未事前向儀器管理人員提出樣品處理討論，經發現或造成真空不佳或系統污染，本單位有權立即將試片退出，嚴重者需負維修賠償之責任。

收費標準

材料系內自行操作:530元影像檔每張10元 EDS每點100元。

材料系內陪同操作:980元影像檔每張10元 EDS每點100元。

工學院內陪同操作:1200元影像檔每張10元 EDS每點100元。

校內其它學院陪同操作:1200元影像檔每張10元 EDS每點100元。

校外研究單位陪同操作:2400元影像檔每張10元 EDS每點200元。

廠商陪同操作:3000元影像檔每張50元 EDS每點200元。

聯絡方式

負責教授：顏鴻威教授 02-33661327 E-mail：homeryen@ntu.edu.tw

技術員：陳學人先生02-33661348 E-mail：chenhr@ntu.edu.tw

儀器放置地點：台灣大學工學院綜合大樓126室

自行操作鑑定辦法

壹、通過本儀器自行操作資格:能夠掌控一切事務，可於任何時間自行操作，欲約夜間及假日之特殊時段，必須事先向技術員提出申請，且必須有人陪同、經指導教授同意後方可使用儀器。

貳、參加鑑定資格

一、須具備TECNAI G2自行操作執照。

二、取得G2執照後、上機學習F20前的兩個月內須再自行操作TECNAI G2 12小時以上，方可找具備F20執照者陪同上機學習F20（如：9/1取得G2執照後若想在12/5開始練習F20，需在10/5~12/5之間自行操作G2至少12小時才能開始練習）。

三、詳讀TECNAI G2 F20操作手冊、Routine注意事項。

四、上機陪同操作時，每人訓練時數需達12小時(含)以上，方可申請鑑定。

參、鑑定時間星期四14:00~17:00由受鑑者提出，再由技術員安排，原則上每個月安排2次。

肆、考試分筆試及實作：

一、筆試80分以上者方可參加實作考試。

二、實作每人90分鐘，每超過1分鐘扣5分，80分以上及格。

三、實作評分標準：

1. 儀器操作(安全性)：70％，重大錯誤(有損儀器可能) 以不及格計算。

較小錯誤(無害儀器可能)每次扣5~10分。

2. 純熟度：30％

伍、不通過者須重新接受上機陪同操作訓練6小時以上，且至少隔一個月才可補考。

陸、取得自行操作執照資格後，6個月內未使用儀器者，資格取消，需重新接受上機訓練3小時並重新鑑定，才能夠再取得資格（以計費登記簿為準，一個時段若有多名操作者，時數會平均計算）。

柒、上述所有操作時數均以計費登記簿為準，且一個時段若有多名操作者(至多2人)，時數將平均計算。