桌上型X光繞射分析儀(XRD) |
主要規格 |
1.
最高功率:600W
(30kV/20mA) 2.
X光光源:2.2KW陶瓷質材密封銅靶 3.
2θ掃瞄範圍-3˚~145˚、轉速:0.01 to
100°/min (2θ)、step:0.005° (2θ) 4.
6座式樣品載台 5.
入射和接收 Soller 狹縫 2.5 度,DS 1.25 和 0.625 °,IHS10
mm, RS 0.3 mm。 6.
XSPA-200 ER-MF偵測器 |
主要功能 |
1.
材料結構鑑定 2.
定量分析 3.
結晶度百分比 4.
晶粒尺寸和應變 5.
lattice parameter refinement 6.
Rietveld refinement 7.
分子結構 |
申請服務辦法 |
1.請到臺大材料系預約系統中預約 2.每月25日10:00開始開放下個月的預約時段,當月有空檔可隨時預約。 3.底色為橘色時段代表有專人陪同,其他時段需自行操作。 4.取消預約需在二天前自行上網取消,否則除非特殊狀況(如天災),費用照計。 |
注意事項 |
1.無法分析液態樣品 2.樣品厚度小於8mm |
收費標準 |
1.材料系內自行操作:200元/小時 2.材料系內陪同操作:650元/小時 3.工學院內陪同操作:750元/小時 3.校內其他學院陪同操作:750元/小時 4.校外研究單位陪同操作:900元/小時 5.廠商陪同操作:1200元/小時 |
聯絡方式 |
負責教授:薛人愷 教授 02-33664533 E-Mail:rkshiue@ntu.edu.tw 技術員:高崇源 先生 02-33665241 E-Mail:kcyuan@ntu.edu.tw 儀器放置地點:台灣大學工學院綜合大樓120室
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壹、通過本儀器自行操作資格:能夠掌控一切事務,可於任何時間自行操作,唯夜間及假日必須事先向技術員提出申請,經指導教授同意後方可使用儀器。。 貳、參加鑑定資格 一、輻防測驗及格者。 二、接受陪同操作滿6小時。(以計費登記簿為準)。 參、鑑定時間由受鑑者提出,再由技術員公告時間。 肆、實作: 一、每人15分鐘,每超過1分鐘扣5分,80分以上及格。 二、評分標準: 1.儀器操作:80%,重大錯誤(有損儀器可能)每次扣30分。
較小錯誤(無害儀器可能)每次扣5~10分。 2.純熟度:20% |