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穿透式電子顯微鏡系統管理辦法

 

 

壹、儀器設備

一、穿透式電子顯微鏡

1. 英文名稱:JOEL JEM-1230 Transmission Electron Microscope with Gatan DualVision CCD Camera

2. 中文名稱: JOEL 1230穿透式電子顯微鏡及GATAN DualVision CCD照相機

3. 重要規格:
(1)電子源:熱陰極電子鎗(鎢絲或是LaB6燈絲)
(2)最大加速電壓:120KV
(3)倍率:最低 50x,最高600,000x
(4)傾斜角度:正負30度

4. 儀器說明:
(1)購置年月:2004年8月15日
(2) JEM-1230 為日本電子公司 (JEOL Co.Ltd) 所開發 LaB 6 穿透式電子顯微鏡,配備高性能 LaB 6 電子源,提供高亮度高空間解析度的電子束,由於真空要求度不高,適合多樣化的各種試片分析,加速電壓 (Acceleration Voltage) 分別有 40, 60, 80, 100, 120 kV ,而儀器 放大倍率 (Magnification) 可以從 10 ~ 600,000 X , 解像力 (Resolution) 則 分別為 0.14nm(lattice image) 0.3nm(point image) 。 JEM-1230 的標準功能包括穿透影像觀察,電子繞射做晶體結構分析,配合數位影像拮取系統(CCD) 可取代傳統的底片拍照方式,具有節省成本與時間之優點。目前本儀器並未加裝 EDS (Energy Dispersive Spectrum) 能量分散式光譜儀,所以不支援元素分析之功能。

二、冷凍薄膜切割機

1. 英文名稱:Leica Ultracut UCT6 and Leica FCS (Low Temperature Sectioning System) and Leica EM KMR2 (Glass Knife Maker)

2. 中文名稱: Leica 超薄切片機、Leica低溫切片設備、Leica玻璃刀製刀機

3. 儀器說明:
(1)本設備系統用於製備TEM樣品切片
(2)購置年月:2004年9月10日

 

貳、服務項目

各種材料(包含高分子、生醫材料、金屬、電子與陶瓷材料)內部微結構影像或晶體排列繞射圖譜之測定。

 

參、申請服務辦法

預約方式

預約請洽管理者!

管理人員:沈聖彥同學(電話: 02-3366-5316 ;高分子所402室)

開放時段

第一操作時段:週一至週五上午9:00~12:00

第二操作時段:週一至週五下午1:00~4:00

預約一般等待時間

依預約情況而定。

使用資格

依據使用者對於儀器了解程度之不同,給予A、B二種不同等級之證照。各級證照持有人使用權限範圍如下:

  • A級:可完全自行操作之使用者,白天上班時間或夜間假日皆可使用。
  • B級:可於白天上班時間使用,但僅限簡易之操作。

注意事項

  • 儀器之使用以實驗室教授為申請單位,時間排定後有任何問題請於上機前24小時通知,否則費用照計。
  • 每次最多可申請一個單元(3小時)上機時間,待做完後始可再預約。
  • 具有強磁性之材料,恕不受理。
  • 試片在電子束照射下會有氣體揮發之材料,因有礙必要之真空維持,恕不受理。
  • 無機材料之研磨、拋光、打薄、鍍膜等需自行處理。
  • 生物樣品乾燥請自行處理。
  • 若為高分子材料需要切片而欲申請切片機之使用者,請參照儀器管理辦法來辦理。
  • 本儀器不支援元素分析和高解析影像 (HR-TEM) 等功能。
  • 使用者有義務 保持整個儀器室及機件周邊之清潔。

 

肆、收費標準

一、校內人員

(一)  高分子所成員
•  每時段 3 小時: 1000 元
•  超薄切片:每一試片常溫 500 元,低溫 1500 元
•  底片(含沖洗):每張 100 元
•  影像檔:每一影像檔 20 元

(二)本校其他單位人員
•  每時段 3 小時: 2000 元
•  超薄切片:每一試片常溫 1500 元,低溫 3000 元
•  底片(含沖洗):每張 100 元
•  影像檔:每一影像檔 20 元

(三)以上收費標準不包含代為操作費用。如需操作人員代為操作,每時段 3 小時: 1500 元

二、校外人員
•  若材料為溶液狀態:每時段 3 小時 4500 元
•  若材料為薄片 (film) 狀態:每一試片 7500 元 ( 含常溫切片 ) 、或每一試片 11500 元 ( 含低溫冷凍切片 )
•  底片(含沖洗):每張 100 元
•影像檔:每一影像檔 20 元

 

伍、預期回件時間

實驗當天將底片或結果取回。

 

陸、聯絡人

*負責教授及連絡電話:

  • 林江珍教授 (02)3366-5312
  • 謝國煌教授(02)3366-3044

*儀器放置地點:台灣大學高分子科學與工程學研究所106室

*當您使用過本儀器後若有任何建議或有所批評指教的地方,請向負責教授反應,謝謝。

 

柒、管理委員會

第一條:管理委員會之產生

  • 本委員會設委員八人,所長為當然委員,其餘人由所長提名經所務會議同意組成,現任所長為本委員會召集人。
  • 本委員會之委員任期為二年,得連任之。

第二條:成員

  • 召集人:謝國煌教授
  • 管理委員:林江珍教授、謝國煌教授、黃慶怡教授、戴子安教授、林金福教授、陳文章教授、林唯芳教授、邱文英教授。
  • 技術人員:五位具有A級認證資格之TEM助教。

第三條:工作要點

  • 本委員會每學期至少開會一次,須有三分之二以上委員出席始得開會,二分之一以上出席委員同意,始得作出決議。
  • 本委員會負責處理下列事務:
    • 貴重儀器設備管理辦法之制訂與修訂。
    • 貴重儀器設備之管理。
    • 貴重儀器設備使用糾紛之協調與仲裁。
    • 貴重儀器設備收費標準之制定與修訂。
    • 對違反儀器設備管理辦法及實驗室安全之處分建議。

 

 

使用資格之認定

ㄧ、 前言

為充分服務使用者,發揮儀器效能,以疏解日益增多的服務需求,並收人才訓練之效,特訂定本辦法。

二、資格之認定標準

A級: 可完全自行操作之使用者,白天上班時間或夜間假日皆可使用。

B級: 可於白天上班時間使用,但僅限簡易之操作。

C級: 於白天上班時間,全程由技術人員代為操作。

三、 A級執照訓練細則

培訓資格:

1: 修習過專業電子顯微鏡課程且成績及格之高分子所合聘教授研究生。。

2: 儀器管理人員做過筆試考核通過者。

儀器訓練:

1: 具有使用資格之研究生,可申請儀器訓練。

2: 儀器訓練由儀器管理人員負責進行,或由各實驗室A級使用者代為訓練後與管理者申請檢定。

3: 儀器訓練每學年一梯次,同實驗室者不得重複報名。學習時間每週兩小時,以10次為限,若10次內無法通過執照考核,將待別梯次重新申請儀器訓練。

檢定考試:

檢定考試包含口試與操作考試兩部份,考試時間為1小時,可視情況予以延長,鑑定考試未通過者,需等三週後方可在申請考核。

口試: 儀器基本原理與緊急狀況之處理。

操作考: alignment步驟與試片影像拍攝之流程

四、 B級執照訓練細則

培訓資格同A級執照,參加過3次以上之儀器訓練講習者,經儀器管理人員核可獲B級執照認定。B級操作者晉升A級之辦法(實際操作20小時並與管理者提出申請)。

五、 C級執照訓練細則 

ㄧ般儀器預約使用者皆為C級執照。

六、 使用者須知

  1. 使用前需確認儀器狀況正常方可上機使用,使用後請務必詳細填寫使用記錄簿,若遇突發之狀況如停電,燈絲燒毀等也需詳細填寫上去說明情況。
  2. 若因人為之不當使用造成儀器之毀損,將視情況予以禁用一段時間,嚴重者,取消其使用執照。



 
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