一、場發射電子顯微鏡
1. 英文名稱:JOEL JSM-6700F Field Emission Scanning Electron Microscope
2. 中文名稱:JOEL JSM-6700F場發射掃描式電子顯微鏡
3. 重要規格:
(1)電子槍 冷陰極型式
(2)解析度 1.0 nm (15KV) 2.2 nm (1KV)
(3)電子槍真空度 10-8 Pa以下
(4)倍率 25至650,000倍
(5)加速電壓 0.5 to 30 KV
(6)探針電流 10-13 to 2×10-9 A
(7)試片大小限制 直徑Φ25 mm × 高度10 mm
(8)試片載台 中心式試片台、X-Y移動範圍:70 mm x 50 mm、旋轉範圍:360°、工作距離:1.5 mm
to 25 mm、傾斜角度:-5° to +60°
(9)馬達驅動載台 3軸 (X,Y,R)
(10)影像輸出 儲存為*.bmp或 *.jpg或*.tif等電子圖檔 video printer輸出
4. 儀器說明:
(1)購置年月:2007年 3月
(2)電子顯微鏡主要是由電子槍 (Electron Gun) 發射出高加速電壓之入射電子束,經過一組磁透鏡聚焦 (Condenser
Lens) 聚焦後,用遮蔽孔徑 (Condenser Aperture) 選擇電子束的尺寸(Beam Size)後,通過一組控制電子束的掃描線圈,再透過物鏡
(Objective Lens) 聚焦,打擊在試片後,產生相關二次訊號來分析各種特性,一般的二次訊號包括直射電子、散射電子、二次電子、背向散射電子、Auger電子及X射線等訊號,然後再將這些訊號經由適當之檢測器(Detector)接收後,經放大器(Amplifier)放大,然後送到顯像管(Braun
Tube)上成像。掃描式電子顯微鏡由於景深(Depth of Focus)大,對於研究物體之表面結構功效特別顯著,例如材料之斷口、磨損面、塗層結構、夾雜物等之觀察研究。場發射掃描式電子顯微鏡除了跟傳統掃描式電子顯微鏡相同地可觀察物體之微結構外,它由於高電場所發射之電子束徑小,亮度高,具有傳統掃描式電子顯微鏡所明顯不及之高解析度,其解析度可高達1.0
nm(15 KV)、2.2 nm(KV),另可在低電壓(可低至0.5 KV)下操作,具直接觀察非導體之功能。本儀器之製造廠商及型號為日本JEOL
JSM-6700F冷陰極(Cold Cathode)場發射掃描式電子顯微鏡。冷陰極場發射電子槍較其他熱場發射(Thermal)及蕭基(Schottky)電子槍而言,其優點是電子束與能量散佈相當小,且在超高真空下操作,解析度佳。
|