一、多功能原子力顯微鏡
1. 英文名稱:MicroscopeMultimode Atomic Force Microscopy
2. 中文名稱:多功能原子力顯微鏡
3. 重要規格:
(1)MultiMode system
(2)Nanoscope 3D controller
(3)Vertical-engage "JV" and "EV" scanners
(4)雜訊 : <0.03nm RMS in vertical (Z) dimension with acoustic
vibration isolation
15 um square XY imaging area, 3 um Z range, Sample size :
15 mm diameter, 3 mm thick
4. 儀器說明:
(1)購置年月:2007年8月10日
(2)MultiMode 3D SPM為DI (Digital Instrument)團隊所開發之商用掃描探針顯微鏡,配備影像解析軟體系統與其他硬體設備,可獲取從微米尺度到原子尺度的圖像資料,並提供不同選擇scanner滿足各種實驗應用對掃描範圍和精度的要求。Nanoscope
3D controller壓電掃描管則於每個軸向上都提供了16位元高解析度,控制電路使用戶可以在100微米到幾個納米的範圍內進行成像的縮放,並具有定量相位測量能力。
二、多功能升降溫配件組
1. 英文名稱:MultiMode Heater/Cooler 35/250
2. 中文名稱:多功能升降溫配件組
3. 儀器說明:
(1)附加之加熱及冷卻裝置則可在 -35 oC 到250 oC 範圍內對樣品進行溫度控制。
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