一、X光機:用於材料結構、相鑑定、薄膜低掠角、殘留應力、極圖、全反射、小角度散射等 |
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儀器名稱 |
儀器放置位置 |
管理者 |
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高功率X光繞射分析儀
(Rigaku
TTRAXⅢ 18kW XRD) 2008 |
工綜館 118 |
高崇源
02-33665241 |
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小角度X光散射儀
(Bruker
NanoStar SAXS) 2013
損壞暫停使用 |
工綜館 120 |
高崇源
02-33665241 |
二、掃描式電子顯微鏡:用於材料表面顯微組織觀察，搭配EDS可從事微區成分分析 |
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儀器名稱
(解析度:場發射>LaB6>鎢燈絲) |
儀器放置位置 |
管理者 |
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鎢燈絲式掃描式電子顯微鏡
(JEOL JSM-6510 SEM) 2010 |
工綜館 130-1 |
李苑慈
02-33661338 |
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場發射槍掃描式電子顯微鏡
(FEI Nova
NanoSEM 450 FEG-SEM) 2012 |
工綜館 130 |
陳學人
02-33661348 |
三、穿透式電子顯微鏡:用於材料顯微組織觀察及微區結構分析，搭配EDS可作微區成分分析 |
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儀器名稱
(解析度:場發射>LaB6>鎢燈絲) |
儀器放置位置 |
管理者 |
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100kV 鎢燈絲式穿透式電子顯微鏡(JEOL
JEM-100CXⅡ TEM ) 1991 |
工綜館 122-2 |
陳學人
02-33661348 |
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200kV LaB6 穿透式電子顯微鏡(FEI
Tecnai G2 T20 TEM) 2007 |
工綜館 128 |
陳學人
02-33661348 |
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200kV 場發射槍穿透式電子顯微鏡(FEI
Tecnai G2 F20 FEG-TEM) 2009 |
工綜館 126 |
陳學人
02-33661348 |
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200kV 場發射槍穿透式電子顯微鏡(JEOL
JEM-2010F FEG-TEM )2015 |
工綜館 B24 |
陳學人
02-33661348 |
四、FIB:用於TEM試片製作...等 |
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儀器名稱 |
儀器放置位置 |
管理者 |
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聚焦離子束與電子束顯微系統
(FEI
Helios600i FIB) 2013 |
工綜館 130 |
陳曉萱
02-33661350
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五、熱分析儀:測量材料之熱轉換溫度與熱流、熱穩定性及在不同時間溫度下的機械性質等 |
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儀器名稱 |
儀器放置位置 |
管理者 |
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TA 熱分析儀
(DSC Q200、SDT Q600、DMA Q800) 2007 |
工綜館 336 |
謝坤州
02-33661333 |
六、PIPS離子打薄機:用於試片製作 |
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儀器名稱 |
儀器放置位置 |
管理者 |
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精密離子拋光系統
(PIPS II)2013 |
工綜館B24 |
陳學人
02-33661348 |
七、歐傑電子能譜儀:用於材料表面分析 |
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儀器名稱 |
儀器放置位置 |
管理者 |
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精場發射鎗歐傑電子能譜儀
(JEOL JAMP-9500F Auger)2015 |
工綜館 B36-1 |
高崇源
02-33665241 |
八、材料機械性能(拉伸、彎曲、洛式硬度)與鋼鐵材料成分分析實驗..TAF認證通過 |
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儀器名稱 |
儀器放置位置 |
管理者 |
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拉伸試驗機、硬度試驗機、發射光譜分析儀....等 |
舊數學館 |
吳福訓
02-33661358 |
6078
