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最新消息

 

 

 

目前可以科技部計畫預約及扣款的儀器有以下三部

預約方式

收費方式介紹

儀器名稱

儀器放置位置

管理者

FESEM78006078

場發射槍掃描式電子顯微鏡
(JEOL JSM-7800F Prime FEG-SEM) 
2016

工綜130-1

02-33663366

轉55455

李苑慈
02-33661338

FEEPMA5067

電場發射槍電子微探儀
(JEOL JXA-8530F PLUS FE-EPMA)
2019

工綜館122-2

高崇源
02-33665241

FETEMF30

 300kV場發射槍穿透式電子顯微鏡
(FEI Tecnai G2 F30 FEG-TEM)
2001

工綜館 124

陳學人
02-33661348

 

 

 

以下儀器,由台大材料系負責維護,無法以科技部計畫扣款,須支付全額費用

收費標準

一、X光機:用於材料結構、相鑑定、薄膜低掠角、殘留應力、極圖、全反射、小角度散射等

 

儀器名稱

儀器放置位置

管理者

18kW

 高功率X光繞射分析儀
(Rigaku TTRAXⅢ 18kW XRD)
2008

工綜館 118

高崇源
02-33665241

SAXS

小角度X光散射儀
(Bruker NanoStar SAXS)
2013

損壞暫停使用

工綜館 120

高崇源
02-33665241

二、掃描式電子顯微鏡:用於材料表面顯微組織觀察,搭配EDS可從事微區成分分析

 

儀器名稱
(解析度:場發射>LaB6>鎢燈絲)

儀器放置位置

管理者

6510

鎢燈絲式掃描式電子顯微鏡
(JEOL JSM-6510 SEM)
2010

工綜館 130-1

李苑慈
02-33661338

NOVA

場發射槍掃描式電子顯微鏡
(FEI Nova NanoSEM 450 FEG-SEM) 2012

工綜館 130

陳學人
02-33661348

三、穿透式電子顯微鏡:用於材料顯微組織觀察及微區結構分析,搭配EDS可微區成分分析

 

儀器名稱
(解析度:場發射>LaB6>鎢燈絲)

儀器放置位置

管理者

100CX

100kV 鎢燈絲式穿透式電子顯微鏡(JEOL JEM-100CXⅡ TEM ) 1991

工綜館 122-2

陳學人
02-33661348

G2

200kV LaB6 穿透式電子顯微鏡(FEI Tecnai G2 T20 TEM) 2007

工綜館 128

陳學人
02-33661348

F20

200kV 場發射槍穿透式電子顯微鏡(FEI Tecnai G2 F20 FEG-TEM) 2009

工綜館 126

陳學人
02-33661348

2010

200kV 場發射槍穿透式電子顯微鏡(JEOL JEM-2010F  FEG-TEM )2015

工綜館 B24

陳學人
02-33661348

四、FIB:用於TEM試片製作...等

 

儀器名稱

儀器放置位置

管理者

FIB

聚焦離子束與電子束顯微系統
(FEI Helios600i  FIB)
2013

工綜館 130

陳曉萱
02-33661350

五、熱分析儀:測量材料之熱轉換溫度與熱流、熱穩定性及在不同時間溫度下的機械性質等

 

儀器名稱

儀器放置位置

管理者

TA

TA 熱分析儀
(DSC Q200、SDT Q600、DMA Q800) 2007

工綜館 336

謝坤州
02-33661333

、PIPS離子打薄機:用於試片製作

 

儀器名稱

儀器放置位置

管理者

PIPS

精密離子拋光系統
(PIPS II)2013

工綜館B24

陳學人
02-33661348

、歐傑電子能譜儀:用於材料表面分析

 

儀器名稱

儀器放置位置

管理者

Auger

場發射鎗歐傑電子能譜儀
(JEOL JAMP-9500F Auger)2015

工綜館 B36-1

高崇源
02-33665241

、材料機械性能(拉伸、彎曲、洛式硬度)與鋼鐵材料成分分析實驗..TAF認證通過

 

儀器名稱

儀器放置位置

管理者

 

拉伸試驗機、硬度試驗機、發射光譜分析儀....等

舊數學館

吳福訓
02-33661358