一、X光機:用於材料結構、相鑑定、薄膜低掠角、殘留應力、極圖、全反射、小角度散射等 |
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儀器名稱 |
儀器放置位置 |
管理者 |
收費標準 |
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高功率X光繞射儀(18kW)
(Rigaku
TTRAXⅢ XRD)
2008啟用 |
工綜館118
02-33663366
轉55436 |
高崇源
02-33665241
自行操作評鑑辦法 |
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新高功率X光繞射儀(9kW)
(Rigaku SmartLab XRD)
2026啟用 |
工綜館120
02-33661346
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高崇源
02-33665241
自行操作評鑑辦法 |
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桌上型X光繞射儀(600W)
(Rigaku MiniFlex XRD)
2026啟用 |
工綜館120
02-33661346
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高崇源
02-33665241
自行操作評鑑辦法 |
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二、掃描式電子顯微鏡:用於材料表面顯微組織觀察，搭配EDS可從事微區成分分析 |
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儀器名稱
(解析度:場發射>LaB6>鎢燈絲) |
儀器放置位置 |
管理者 |
收費標準 |
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掃描式電子顯微鏡(鎢燈絲式)
(JEOL JSM-6510 SEM)
2010啟用 |
工綜館122-4
02-33661347 |
李苑慈
02-33661338
自行操作評鑑辦法 |
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場發射掃描式電子顯微鏡1
(FEI Nova
NanoSEM 450 FESEM)
2012啟用 |
工綜館130-1
02-33663366
轉55455 |
陳學人
02-33661348
自行操作評鑑辦法 |
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場發射掃描式電子顯微鏡2
(Hitachi SU7000 FESEM)
2025啟用 |
工綜館138
02-33665093
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陳學人
02-33661348
自行操作評鑑辦法 |
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三、穿透式電子顯微鏡:用於材料顯微組織觀察及微區結構分析，搭配EDS可作微區成分分析 |
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儀器名稱
(解析度:場發射>LaB6>鎢燈絲) |
儀器放置位置 |
管理者 |
收費標準 |
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穿透式電子顯微鏡(100kV 鎢燈絲式)
(JEOL
JEM-100CXⅡ TEM )
1991啟用 |
工綜館122-3
02-33661347 |
陳學人
02-33661348
自行操作評鑑辦法 |
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穿透式電子顯微鏡(200kV LaB6)
(FEI
Tecnai G2 T20 TEM)
2007啟用 |
工綜館128
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陳學人
02-33661348
自行操作評鑑辦法 |
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場發射穿透式電子顯微鏡(200kV)
(FEI
Tecnai G2 F20 FETEM)
2009啟用 |
工綜館126 |
陳學人
02-33661348
自行操作評鑑辦法 |
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四、FIB:用於TEM試片製作...等 |
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儀器名稱 |
儀器放置位置 |
管理者 |
收費標準 |
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聚焦離子束與電子束顯微系統
(FEI
Helios600i FIB-FESEM)
2013啟用 |
工綜館130
02-33661350 |
陳曉萱
02-33665787
自行操作評鑑辦法
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聚焦離子束與電子束顯微系統
(Hitachi ETHOS NX5200 FIB-FESEM)
2024啟用 |
工綜館130
02-33661350 |
陳曉萱
02-33665787
自行操作評鑑辦法
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五、歐傑電子能譜儀:用於材料表面分析 |
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儀器名稱 |
儀器放置位置 |
管理者 |
收費標準 |
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場發射歐傑電子能譜儀
(JEOL JAMP-9500F Auger)
2015啟用 |
工綜館B36-1
02-33661356 |
高崇源
02-33665241
自行操作評鑑辦法 |
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六、熱分析儀:測量材料之熱轉換溫度與熱流、熱穩定性及在不同時間溫度下的機械性質等 |
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儀器名稱 |
儀器放置位置 |
管理者 |
收費標準 |
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TA 熱分析儀
(DSC Q200、SDT Q600、DMA Q800)
2007啟用 |
工綜館336 |
謝坤州
02-33661333
自行操作評鑑辦法 |
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七、PIPS離子打薄機:用於試片製作 |
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儀器名稱 |
儀器放置位置 |
管理者 |
收費標準 |
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精密離子拋光系統
(PIPS II)
2013啟用 |
工綜館B24 |
陳學人
02-33661348
自行操作評鑑辦法 |
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八、材料機械性能(拉伸、彎曲、洛式硬度)與鋼鐵材料成分分析實驗..TAF認證通過 |
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儀器名稱 |
儀器放置位置 |
管理者 |
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拉伸試驗機、硬度試驗機、發射光譜分析儀....等 |
舊數學館 |
吳福訓
02-33661358 |
